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  • 閃測(cè)儀:現(xiàn)代化工業(yè)的尺寸測(cè)量利器

    2024-02-27 在現(xiàn)代化工業(yè)中,閃測(cè)儀只需一鍵即可快速批量測(cè)量尺寸,為產(chǎn)品尺寸控制和質(zhì)量管理提供重要保障。工作原理機(jī)器視覺系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)是高精度、重復(fù)性的進(jìn)行運(yùn)作,并能提供清晰的圖像。整個(gè)系統(tǒng)由光源、鏡頭、相機(jī)、圖像采集卡、圖像處理軟件等組件構(gòu)成。閃測(cè)儀就是利用先進(jìn)的光學(xué)原理和圖像處理技術(shù),高速獲取并分析產(chǎn)品的尺寸信息。中圖閃測(cè)儀基于機(jī)器視覺的自動(dòng)測(cè)量技術(shù),采用雙遠(yuǎn)心高分辨率光學(xué)鏡頭,將產(chǎn)品影像經(jīng)過拍照后調(diào)整至合適大小后,再通過圖像處理軟件進(jìn)行分析,即可得到產(chǎn)品的尺寸數(shù)據(jù),同時(shí)完成對(duì)尺寸公差的評(píng)...
  • 臺(tái)階儀:亞埃級(jí)垂直分辨率,新材料納米加工的測(cè)量利器!

    2024-02-20 臺(tái)階儀亞埃級(jí)垂直分辨率能夠?qū)崿F(xiàn)納米級(jí)別的測(cè)量和分析,儀器具備出色的精確性和穩(wěn)定性。在納米加工領(lǐng)域,臺(tái)階儀不僅能準(zhǔn)確評(píng)估材料的表面形貌和結(jié)構(gòu),同時(shí)也為納米加工過程的控制和優(yōu)化提供了可靠的依據(jù)。利用臺(tái)階儀實(shí)時(shí)觀測(cè)材料表面的微觀變化,并對(duì)其進(jìn)行全面的分析和表征,這對(duì)于了解材料的晶體結(jié)構(gòu)和電子性質(zhì)等方面至關(guān)重要。CP系列臺(tái)階儀線性可變差動(dòng)電容傳感器(LVDC),具有亞埃級(jí)分辨率,13um量程下可達(dá)0.01埃。高信噪比和低線性誤差,使得產(chǎn)品能夠掃描到幾納米至幾百微米臺(tái)階的形貌特征。具有...
  • 顯微測(cè)量|光學(xué)3D表面輪廓儀微納米三維形貌一鍵測(cè)量

    2024-02-20 光學(xué)3D表面輪廓儀(白光干涉儀)利用白光干涉原理,以0.1nm分辨率精準(zhǔn)捕捉物體的表面細(xì)節(jié),實(shí)現(xiàn)三維顯微成像測(cè)量,被廣泛應(yīng)用于材料學(xué)領(lǐng)域的研究和應(yīng)用。了解工作原理與技術(shù)材料學(xué)領(lǐng)域中的光學(xué)3D表面輪廓儀,也被稱為白光干涉儀,是利用白光干涉原理進(jìn)行成像測(cè)量的儀器,是一種通過測(cè)量干涉光的干涉條紋來獲取物體表面形貌的方法。該儀器通過發(fā)射一束寬光譜的白光,并將其照射到被測(cè)物體表面,然后收集被物體反射的光線,形成一系列干涉條紋。干涉條紋的形態(tài)和分布與物體表面的高度和形狀有關(guān),通過分析這些...
  • 顯微測(cè)量|共聚焦顯微鏡大傾角超清納米三維顯微成像

    2024-02-18 用于材料學(xué)領(lǐng)域的共聚焦顯微鏡:實(shí)現(xiàn)超高分辨率三維顯微成像測(cè)量的技術(shù)用于材料科學(xué)領(lǐng)域的共聚焦顯微鏡,基于光學(xué)共軛共焦原理,其超高的空間分辨率和三維成像能力,提供了全新的視角和解決方案。工作原理共聚焦顯微鏡通過在樣品的焦點(diǎn)處聚焦激光束,在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重建出3D真彩圖像,從而進(jìn)行分析。儀器結(jié)構(gòu)共聚焦顯微鏡主要有四部分組成:1、顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)。2、掃描裝置。3、激光光源。4、檢測(cè)系統(tǒng)。整套儀器由計(jì)算機(jī)控制,各部件之間的操作切換都可在計(jì)算機(jī)操作平...
  • 顯微測(cè)量|臺(tái)階儀二維超精密測(cè)量微觀形貌

    2024-02-18 臺(tái)階儀通過掃描被測(cè)樣品表面,獲取高分辨率的表面形貌數(shù)據(jù),能夠揭示微觀結(jié)構(gòu)的特征和性能。了解工作原理和性能特點(diǎn)臺(tái)階儀利用掃描探針在樣品表面上進(jìn)行微觀測(cè)量,通過探測(cè)探針和樣品表面之間的相互作用力,獲取表面形貌信息。具體而言,掃描探針通過細(xì)微的力變化,測(cè)量樣品表面的起伏程度以及凹凸部分的高度差。然后通過數(shù)據(jù)處理,形成高分辨率的圖像。它能夠?qū)崿F(xiàn)納米級(jí)別的測(cè)量,對(duì)微觀結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)進(jìn)行觀測(cè)和分析,揭示出表面的微觀特征;還具備高速掃描的能力,實(shí)現(xiàn)快速獲取樣品的形貌數(shù)據(jù)。功能和作用介紹作為一款...
  • 光學(xué)輪廓儀的工作原理是什么?

    2024-02-02 光學(xué)輪廓儀的工作原理基于光學(xué)顯微鏡和干涉儀的結(jié)合。它使用光學(xué)顯微鏡將待測(cè)表面放大,并使用干涉儀將表面形貌轉(zhuǎn)換為干涉條紋。然后,通過光電轉(zhuǎn)換和信號(hào)處理技術(shù),將這些干涉條紋轉(zhuǎn)換為數(shù)字圖像或數(shù)據(jù)。具體來說,光學(xué)輪廓儀的工作流程如下:投射光線:輪廓儀會(huì)發(fā)射一束或多束光線,這些光線可以是激光束、LED光源或其他類型的光源。光線通過透鏡或反射鏡進(jìn)行聚焦,形成一個(gè)或多個(gè)光斑。照射物體:光線照射到待測(cè)量的物體上,光斑會(huì)在物體表面形成一個(gè)亮點(diǎn)。感應(yīng)光斑:輪廓儀使用一個(gè)或多個(gè)攝像頭或傳感器來感應(yīng)...
  • 國產(chǎn)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)|中圖儀器全自主研發(fā),實(shí)現(xiàn)高精度三維尺寸測(cè)量

    2024-02-01 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)廣泛應(yīng)用在工業(yè)生產(chǎn)中,不僅可以提高生產(chǎn)效率,還能保證產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定性。基本原理和作用介紹三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是一種基于三維坐標(biāo)系的精密測(cè)量儀器,可精確測(cè)量物體的尺寸、形狀和位置?;驹硎抢脗鞲衅鳒y(cè)量被測(cè)物體在三個(gè)方向上的坐標(biāo)值,然后計(jì)算出物體的幾何特征。主要作用有以下幾個(gè)方面:1、測(cè)量與檢驗(yàn)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)可以以不同的測(cè)量方法,如點(diǎn)測(cè)法、掃描法等,快速、精確地測(cè)量制造件的尺寸和形狀,以及檢驗(yàn)其質(zhì)量是否符合要求。2、精度控制在工業(yè)生產(chǎn)中,通過三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量結(jié)果,可以及時(shí)...
  • 數(shù)控測(cè)量|一文讀懂中圖儀器在機(jī)檢測(cè)與機(jī)床校準(zhǔn)補(bǔ)償系統(tǒng)

    2024-01-31 在制造業(yè)領(lǐng)域,為了確保產(chǎn)品質(zhì)量和工藝精確度,在機(jī)檢測(cè)與機(jī)床校準(zhǔn)補(bǔ)償系統(tǒng)被廣泛應(yīng)用于機(jī)床領(lǐng)域。原理解析在機(jī)檢測(cè)與機(jī)床校準(zhǔn)補(bǔ)償系統(tǒng)由精密測(cè)量儀器、信息處理設(shè)備和控制系統(tǒng)組成。機(jī)床校準(zhǔn)補(bǔ)償基于有限元分析和反饋控制理論。對(duì)機(jī)床進(jìn)行檢測(cè)和測(cè)量,從而獲取機(jī)床在工作過程中的誤差和變形信息。然后通過與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較和分析,計(jì)算出校準(zhǔn)補(bǔ)償量。最后,通過控制系統(tǒng)將補(bǔ)償量應(yīng)用到機(jī)床中,從而實(shí)現(xiàn)誤差的補(bǔ)償和控制。在線檢測(cè)類似于數(shù)控加工系統(tǒng),其硬件部分通常由機(jī)床設(shè)備、數(shù)控系統(tǒng)、伺服系統(tǒng)、測(cè)頭系統(tǒng)以及...
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