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臺階儀:亞埃級垂直分辨率,新材料納米加工的測量利器!

更新時間:2024-02-20      點擊次數(shù):935

臺階儀亞埃級垂直分辨率能夠?qū)崿F(xiàn)納米級別的測量和分析,儀器具備出色的精確性和穩(wěn)定性。在納米加工領(lǐng)域,臺階儀不僅能準確評估材料的表面形貌和結(jié)構(gòu),同時也為納米加工過程的控制和優(yōu)化提供了可靠的依據(jù)。利用臺階儀實時觀測材料表面的微觀變化,并對其進行全面的分析和表征,這對于了解材料的晶體結(jié)構(gòu)和電子性質(zhì)等方面至關(guān)重要。


CP系列臺階儀線性可變差動電容傳感器(LVDC),具有亞埃級分辨率,13um量程下可達0.01埃。高信噪比和低線性誤差,使得產(chǎn)品能夠掃描到幾納米至幾百微米臺階的形貌特征。具有出色的重復性和再現(xiàn)性,可以準確測量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料。

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測量功能

(1)臺階高度:能夠測量納米到330μm甚至1000μm的臺階高度

(2)粗糙度與波紋度:能夠測量樣品的粗糙度和波紋度,分析軟件通過計算掃描出的微觀輪廓曲線,可獲取粗糙度與波紋度相關(guān)的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余項參數(shù);

(3)翹曲與形狀:能夠測量樣品表面的2D形狀或翹曲,如在半導體晶圓制造過程中,因多層沉積層結(jié)構(gòu)中層間不匹配所產(chǎn)生的翹曲或形狀變化,或者類似透鏡在內(nèi)的結(jié)構(gòu)高度和曲率半徑。

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臺階儀的應(yīng)用,不僅能幫助科研人員解決納米材料表面形貌難題,還為納米加工提供了重要參考。此外,臺階儀還具有適用范圍廣的優(yōu)點。它對測量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求。

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臺階儀具有測量精度高、測量速度快、適用范圍廣等優(yōu)點,它的應(yīng)用不僅能夠提高納米加工的效率和質(zhì)量,同時也為材料工程領(lǐng)域的研究提供了新的視角。

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