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中圖儀器光學表面輪廓檢測儀可以測到12mm，也可以測到更小的尺寸，XY載物臺標準行程為140*110mm，局部位移精度可達亞微米級別，鏡頭的橫向分辨率數值可達0.4um，Z向掃描電機可掃描10mm范圍，縱向分辨率可達0.1nm級別，因此可測非常微小尺寸的器件。

中圖儀器SuperViewW系列三維光學表面輪廓儀分辨率可達0.1nm，測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內，確保了高款率檢測?？梢詮V泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。

SuperViewW1系列光學表面輪廓儀采用了掃描模塊和內部抗振設計，可實現高0.05%的測量精度重復性和0.002nm的粗糙度RMS重復性，詮釋始終如一的測量品質。

光學輪廓儀是以白光干涉技術原理，對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。

中圖儀器研發(fā)生產的3d白光輪廓儀分辨率0.1μm，重復性0.1%，可為樣品表面測量提供快速，便捷的非接觸式3D表面形貌測量解決方案。應用領域廣泛，操作簡便，可自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數。可以用于測試各類表面。比如透明的玻璃表面，加上增透膜，其反射率小于1%；也可以用于測試直至100%反射率的各類高反表面。

中圖儀器研發(fā)生產的光學三維表面形貌儀價格實惠，提供二維分析、三維分析、表面紋理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、體積、角度計算、曲率計算、模擬一維分析、數據輸出、數據自動動態(tài)存儲、自定義數據顯示格式等功能。

中圖三維光學表面輪廓儀品牌采用白光軸向色差原理，利用白光干涉掃描技術為基礎制成的SuperViewW1是一種用于對樣品表面進行快速、重復性高、高分辨率的三維檢測的精密儀器，它的特點是可以達到納米級的檢測精度。測量范圍從納米級粗糙度到毫米級的表面形貌，可以快速獲取數據進行檢測，主要用于成品質量的管理，確保良品合格率。

SuperViewW1光學形貌測量儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，提供依據ISO/ASME/EUR/GBT四大國內外標準共計300余種2D、3D參數作為評價標準。