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  • SuperViewW1白光三維光學(xué)輪廓測量儀
    SuperViewW1白光三維光學(xué)輪廓測量儀

    SuperViewW白光三維光學(xué)輪廓測量儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量??蓽y各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

    時間:2024-12-20型號:SuperViewW1訪問量:76
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  • SuperViewW1國產(chǎn)光學(xué)輪廓儀設(shè)備
    SuperViewW1國產(chǎn)光學(xué)輪廓儀設(shè)備

    SuperViewW國產(chǎn)光學(xué)輪廓儀設(shè)備具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個精細(xì)器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。

    時間:2024-12-16型號:SuperViewW1訪問量:83
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  • SuperViewW1快速聚焦光學(xué)三維3D輪廓儀
    SuperViewW1快速聚焦光學(xué)三維3D輪廓儀

    SuperViewW快速聚焦光學(xué)三維3D輪廓儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。它以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸.

    時間:2024-12-04型號:SuperViewW1訪問量:133
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  • SuperViewW1光學(xué)3D表面形貌儀
    SuperViewW1光學(xué)3D表面形貌儀

    SuperViewW光學(xué)3D表面形貌儀廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中,可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

    時間:2024-11-26型號:SuperViewW1訪問量:160
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  • SuperViewW1材料表面光學(xué)三維形貌儀
    SuperViewW1材料表面光學(xué)三維形貌儀

    SuperViewW材料表面光學(xué)三維形貌儀也叫白光干涉儀、光學(xué)3D表面輪廓儀。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個精細(xì)器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。

    時間:2024-11-14型號:SuperViewW1訪問量:224
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  • SuperViewW1摩擦磨損三維形貌輪廓儀
    SuperViewW1摩擦磨損三維形貌輪廓儀

    SuperViewW摩擦磨損三維形貌輪廓儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式測量分析劃痕形貌,摩擦磨損深度、寬度和體積定量等。它結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率......

    時間:2024-11-12型號:SuperViewW1訪問量:206
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  • SuperViewW1光學(xué)三維形貌輪廓儀
    SuperViewW1光學(xué)三維形貌輪廓儀

    SuperViewW光學(xué)三維形貌輪廓儀是用于樣品表面微觀形貌檢測的精密儀器。它以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測量。

    時間:2024-11-06型號:SuperViewW1訪問量:247
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  • SuperViewW1三維3D光學(xué)輪廓儀測量系統(tǒng)
    SuperViewW1三維3D光學(xué)輪廓儀測量系統(tǒng)

    SuperViewW三維3D光學(xué)輪廓儀測量系統(tǒng)用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量。它基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

    時間:2024-10-18型號:SuperViewW1訪問量:359
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