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w系列光學表面輪廓儀

簡要描述:從檢測效果和操作簡便上來看,w系列光學表面輪廓儀是比較有優(yōu)勢的產品。可以測到12mm,也可以測到更小的尺寸,xy載物臺標準行程為140*110mm(可擴展),局部位移精度可達亞微米級別,鏡頭的橫向分辨率數(shù)值可達0.4um,Z向掃描電機可掃描10mm范圍,縱向分辨率可達0.1nm級別,因此可測非常微小尺寸的器件。

  • 更新時間:2024-05-12
  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 訪  問  量:1182

詳細介紹

品牌CHOTEST/中圖儀器價格區(qū)間面議
產品種類非接觸式輪廓儀/粗糙度儀產地類別國產
應用領域生物產業(yè),能源,交通,航天,汽車

超精密加工這個行業(yè)覆蓋面比較廣,包括航空航天上用到精密零部件,包括金屬、陶瓷片和石英制的精密器件,大多數(shù)由于要求在檢測過程中不能劃傷器件表面,因此在檢測方式上需要采用非接觸式的方式,因而需要用白光干涉儀這類光學測量儀器。從檢測效果和操作簡便上來看,白光干涉儀是比較有優(yōu)勢的產品。


w系列光學表面輪廓儀是以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數(shù),從而實現(xiàn)器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器。


產品功能

1)設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能;

2)測量中提供自動對焦、自動找條紋、自動調亮度等自動化輔助功能;

3)測量中提供自動拼接測量、定位自動多區(qū)域測量功能;

4)分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區(qū)域提取等四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能;

5)分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結構分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能;

6)分析中同時提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。


3.jpg


w系列光學表面輪廓儀可以測到12mm,也可以測到更小的尺寸,xy載物臺標準行程為140*110mm(可擴展),局部位移精度可達亞微米級別,鏡頭的橫向分辨率數(shù)值可達0.4um,Z向掃描電機可掃描10mm范圍,縱向分辨率可達0.1nm級別,因此可測非常微小尺寸的器件;也可以測量大尺寸樣品,支持拼接功能,將測量的每一個小區(qū)域整合拼接成完整的圖像,拼接精度在橫向上和載物臺橫向位移精度一致,可達0.1um。


大尺寸樣品_拼接測量.jpg

光學3D表面輪廓儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,對各種產品、部件和材料表面的平面度、表面缺陷、磨損情況、粗糙度、波紋度、臺階高度、面形輪廓、腐蝕情況、孔隙間隙、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。


廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航天、科研院所等領域中。

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