SuperViewW系列三維輪廓測量儀分辨率0.1μm,重復性0.1%,具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點,專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。
以白光干涉掃描技術(shù)為基礎的3d輪廓儀是用于樣品表面微觀形貌檢測的精密儀器。可以達到納米級的檢測精度,并快速獲得被測工件表面三維形貌和數(shù)據(jù)。
SuperView W1三維輪廓測量儀基于白光干涉原理,不僅用于零件的檢測,還是一種在生產(chǎn)中用于檢測軋制產(chǎn)品表面缺陷的設備,能完成缺陷尺寸的在線檢測。廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領域中。
SuperView W1系列三維表面形貌儀是以白光干涉技術(shù)為原理,獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實現(xiàn)器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器。集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范圍兩大優(yōu)點,適用于從超光滑到粗糙、平面到弧面等各種表面類型,讓3D測量變得簡單。
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