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  • SuperViewW1白光干涉儀測(cè)量粗糙度設(shè)備
    SuperViewW1白光干涉儀測(cè)量粗糙度設(shè)備

    中圖儀器SuperViewW白光干涉儀測(cè)量粗糙度設(shè)備以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

    時(shí)間:2024-06-07型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:567
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  • SuperViewW1白光干涉光學(xué)3D表面形貌輪廓儀
    SuperViewW1白光干涉光學(xué)3D表面形貌輪廓儀

    中圖儀器SuperViewW1白光干涉光學(xué)3D表面形貌輪廓儀利用光學(xué)干涉原理研制開發(fā),能以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。測(cè)量中提供自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)找條紋、自動(dòng)調(diào)亮度等自動(dòng)化輔助功能;提供自動(dòng)拼接測(cè)量、定位自動(dòng)多區(qū)域測(cè)量功能.

    時(shí)間:2024-06-19型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:665
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  • SuperViewW1科研級(jí)三維白光干涉儀
    SuperViewW1科研級(jí)三維白光干涉儀

    中圖儀器SuperViewW科研級(jí)三維白光干涉儀基于白光干涉原理,用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量??蓽y(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

    時(shí)間:2024-06-20型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:631
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  • SuperViewW1光學(xué)平面度檢測(cè)設(shè)備
    SuperViewW1光學(xué)平面度檢測(cè)設(shè)備

    中圖儀器SuperViewW光學(xué)平面度檢測(cè)設(shè)備是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器??蓽y(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。

    時(shí)間:2024-06-21型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:608
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  • SuperViewW1國(guó)產(chǎn)3D白光干涉儀
    SuperViewW1國(guó)產(chǎn)3D白光干涉儀

    中圖儀器SuperViewW國(guó)產(chǎn)3D白光干涉儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸??蓽y(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)300余種2D、3D參數(shù)作為評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。

    時(shí)間:2024-05-14型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:730
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  • SuperViewW1國(guó)產(chǎn)自研白光形貌干涉儀
    SuperViewW1國(guó)產(chǎn)自研白光形貌干涉儀

    除主要用于測(cè)量表面形貌或測(cè)量表面輪廓外,SuperViewW1國(guó)產(chǎn)自研白光形貌干涉儀具有的測(cè)量晶圓翹曲度功能,非常適合晶圓,太陽(yáng)能電池和玻璃面板的翹曲度測(cè)量,應(yīng)變測(cè)量以及表面形貌測(cè)量。

    時(shí)間:2024-06-24型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:773
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  • SuperViewW1白光干涉粗糙度儀
    SuperViewW1白光干涉粗糙度儀

    SuperViewW1白光干涉粗糙度儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺(tái)階高、角度等輪廓尺寸測(cè)量功能.

    時(shí)間:2024-06-24型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:555
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  • SuperViewW1中圖儀器三維白光干涉儀
    SuperViewW1中圖儀器三維白光干涉儀

    SuperViewW1中圖儀器三維白光干涉儀用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量,在半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。

    時(shí)間:2024-06-24型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:685
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