簡(jiǎn)要描述:SuperViewW1白光干涉測(cè)量?jī)x系統(tǒng)分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌,專(zhuān)用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。具有測(cè)量精度高、功能全面、操作便捷、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。
詳細(xì)介紹
品牌 | CHOTEST/中圖儀器 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 生物產(chǎn)業(yè),地礦,能源,航天,綜合 |
SuperViewW1白光干涉測(cè)量?jī)x系統(tǒng)具有測(cè)量精度高、功能全面、操作便捷、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精密器件的過(guò)程用時(shí)2分鐘以?xún)?nèi),確保了高款率檢測(cè)。并且其特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測(cè)量。
【3D測(cè)量,一覽無(wú)余】
采用白光干涉技術(shù),結(jié)合具有抗噪性能的3D重建算法,真實(shí)還原樣品的每一個(gè)細(xì)節(jié),隨意翻轉(zhuǎn)縮放,助您輕松觀察、測(cè)量樣品的任意特征。
【功能強(qiáng)大,參數(shù)齊全】
粗糙度、平面度、孔洞分析等3D測(cè)量功能全部囊括,距離、角度、直徑測(cè)量等2D輪廓分析功能覆蓋,有依據(jù)ISO|ASME|EUR|GBT四大國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)的300余種特征參數(shù)。
【操作便捷,簡(jiǎn)單明了】
直觀的操作界面,操作流程一目了然,自動(dòng)聚焦,一鍵實(shí)現(xiàn)測(cè)量過(guò)程;可視化的工作流程樹(shù),一鍵激活的圖庫(kù)管理功能,所見(jiàn)即所得的分析功能,有一鍵分析功能。
【高重復(fù)精度,穩(wěn)定可靠】
采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)高0.05%的測(cè)量精度重復(fù)性和0.002nm的粗糙度RMS重復(fù)性。
【兩種型號(hào),量身定制】
W1系列白光干涉儀提供1100單鏡頭手動(dòng)版和1200多鏡頭自動(dòng)版兩種機(jī)型,另可針對(duì)不同的測(cè)量需求,在兩種型號(hào)間選取不同配置進(jìn)行組合。
【廣泛應(yīng)用,貼心服務(wù)】
可測(cè)2D/3D輪廓、粗糙度,300余種特征參數(shù)……光學(xué)3D表面輪廓儀在半導(dǎo)體、精密加工及微納材料等領(lǐng)域可得到廣泛應(yīng)用,光滑硅晶片表面粗糙度、精密非球面弧面線(xiàn)粗糙度、金字塔型磁頭夾角、微透鏡陣列曲率半徑……
SuperViewW1白光干涉測(cè)量?jī)x系統(tǒng)分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌,專(zhuān)用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。
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