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白光干涉儀檢測(cè)儀器

簡(jiǎn)要描述:SuperViewW1白光干涉儀檢測(cè)儀器由照明光源系統(tǒng),光學(xué)成像系統(tǒng),垂直掃描系統(tǒng)以及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)構(gòu)成。是目前三維形貌測(cè)量領(lǐng)域高精度的檢測(cè)儀器之一。它以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量。

  • 更新時(shí)間:2024-05-12
  • 產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 訪  問  量:1329

詳細(xì)介紹

品牌CHOTEST/中圖儀器產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域能源,交通,航天,汽車,綜合

SuperViewW1白光干涉儀檢測(cè)儀器由照明光源系統(tǒng),光學(xué)成像系統(tǒng),垂直掃描系統(tǒng)以及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)構(gòu)成。是目前三維形貌測(cè)量領(lǐng)域高精度的檢測(cè)儀器之一。它以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量。


產(chǎn)品功能

1)設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺(tái)階高、角度等輪廓尺寸測(cè)量功能;

2)測(cè)量中提供自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)找條紋、自動(dòng)調(diào)亮度等自動(dòng)化輔助功能;

3)測(cè)量中提供自動(dòng)拼接測(cè)量、定位自動(dòng)多區(qū)域測(cè)量功能;

4)分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區(qū)域提取等四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能;

5)分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能;

6)分析中同時(shí)提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。


SuperViewW1白光干涉儀,光學(xué)3D表面輪廓儀.jpg


主要應(yīng)用領(lǐng)域

1、用于太陽能電池測(cè)量;

2、用于半導(dǎo)體晶圓測(cè)量;

3、用于鍍膜玻璃的平整度(Flatness)測(cè)量;

4、用于機(jī)械部件的計(jì)量;

5、用于塑料,金屬和其他復(fù)合型材料工件的測(cè)量。


SuperViewW1白光干涉儀檢測(cè)儀器非接觸高精密測(cè)量,不會(huì)劃傷甚至破壞工件,在微電子、微機(jī)械、微光學(xué)等領(lǐng)域,可以提供更高精度的檢測(cè)需求。


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